磁暴期间，在极区对流电场作用下，中纬度地区日侧的高密度等离子体被进一步输运到极盖区，从而产生电离层舌状等离子体（Tongue of Ionization, TOI）结构，该结构对极区磁层-电离层-热层耦合系统的研究和空间天气应用都有非常重要的意义。虽然TOI结构已经被广泛报道，但受观测覆盖范围、模拟精度及极区电场模型等因素的限制，TOI结构的精细演化过程及其对热层的影响却很少被研究。本报告将利用高精度（0.625º×0.625º）磁层-电离层-热层耦合模式（CMIT）研究磁暴期间极区电离层，特别是TOI结构的精细演化特征。同时首次分析TOI结构对热层的潜在影响，探究磁暴期间TOI结构在极区磁层-电离层-热层耦合过程中的作用和规律。
关键字
舌状电离结构,磁层-电离层-热层耦合
报告人
党童
中国科学技术大学
稿件作者
党童中国科学技术大学
雷久侯中国科学技术大学
ZhangBin-Zheng China；Department of Earth Sciences； The University of Hong Kong； Hong Kong SAR
WangWenbinNational Center for Atmospheric Research
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