嫦娥五号月壤样品微损制样技术
编号:147
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更新:2021-06-15 07:27:53
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口头报告
摘要
嫦娥五号探测器已完成1731克月壤的采集和返回,是中国首次同时也是人类历史上时隔44年再一次获得来自月球的珍贵样品。经历长期太空风化改造的月壤普遍具有粒径细微、微观结构与组成复杂的特征,记录了大量的形成与演化过程的科学信息。高分辨率透射电镜等是月壤样品微区分析的必要设备,然而为保障分析效果,样品厚度不能大于100nm。因此,月球与行星科学研究中心利用模拟月壤样品,有针对性地开发了月壤样品微损制样方法。
按照颗粒粒径小于0.1微米、0.1-20微米、20-200微米以及大于200微米,将月壤划分为四个粒度区间,并针对性开发相应制样技术。粒径小于0.1微米的月壤颗粒通常聚集形成纳米级颗粒团簇,附着在不规则的较大粒径月壤颗粒的表面。因此,可在双束电镜中依托纳米机械手通过静电吸附方式,将其提取并转移到铜网上,进一步开展透射电镜分析。粒径介于0.1-20微米的月壤颗粒,通过单颗粒超薄切片技术进行处理和制备。具体制样流程为:依托双束电镜中纳米机械手,将月壤颗粒逐个转移到预先制备的树脂基座上,重新包埋、修样后,使用超薄切片机的钻石刀进行厚度小于100nm的超薄切片制备。粒径介于20-200微米的月壤颗粒,则通过聚焦离子束开展单颗粒多切片技术进行样品制备。具体制样流程为:将月壤颗粒悬空置于特定针尖上,按照5微米左右的间隔,使用镓离子束和纳米机械手逐个进行切割和提取,置于U型铜网上进一步减薄至厚度小于100nm。粒径大于200微米的月壤颗粒,则主要通过常规聚焦离子束(Ga或Xe)进行超薄切片制备。
针对不同粒径范围的月壤颗粒,结合多台仪器,开发了对应的超薄切片技术。在保障制样厚度符合透射电镜观察要求的前提下,尽可能降低了制样过程中的损耗和污染。同时,相关技术在传统地质样品分析中,也具有广泛的应用前景。已获批国家发明专利2项,实用新型专利2项,在审国家发明专利1项,国际发明专利1项,并获中国科学院地球化学研究所“技术创新”一等奖。嫦娥五号探测器已完成1731克月壤的采集和返回,是中国首次同时也是人类历史上时隔44年再一次获得来自月球的珍贵样品。经历长期太空风化改造的月壤普遍具有粒径细微、微观结构与组成复杂的特征,记录了大量的形成与演化过程的科学信息。高分辨率透射电镜等是月壤样品微区分析的必要设备,然而为保障分析效果,样品厚度不能大于100nm。因此,月球与行星科学研究中心利用模拟月壤样品,有针对性地开发了月壤样品微损制样方法。
按照颗粒粒径小于0.1微米、0.1-20微米、20-200微米以及大于200微米,将月壤划分为四个粒度区间,并针对性开发相应制样技术。粒径小于0.1微米的月壤颗粒通常聚集形成纳米级颗粒团簇,附着在不规则的较大粒径月壤颗粒的表面。因此,可在双束电镜中依托纳米机械手通过静电吸附方式,将其提取并转移到铜网上,进一步开展透射电镜分析。粒径介于0.1-20微米的月壤颗粒,通过单颗粒超薄切片技术进行处理和制备。具体制样流程为:依托双束电镜中纳米机械手,将月壤颗粒逐个转移到预先制备的树脂基座上,重新包埋、修样后,使用超薄切片机的钻石刀进行厚度小于100nm的超薄切片制备。粒径介于20-200微米的月壤颗粒,则通过聚焦离子束开展单颗粒多切片技术进行样品制备。具体制样流程为:将月壤颗粒悬空置于特定针尖上,按照5微米左右的间隔,使用镓离子束和纳米机械手逐个进行切割和提取,置于U型铜网上进一步减薄至厚度小于100nm。粒径大于200微米的月壤颗粒,则主要通过常规聚焦离子束(Ga或Xe)进行超薄切片制备。
针对不同粒径范围的月壤颗粒,结合多台仪器,开发了对应的超薄切片技术。在保障制样厚度符合透射电镜观察要求的前提下,尽可能降低了制样过程中的损耗和污染。同时,相关技术在传统地质样品分析中,也具有广泛的应用前景。已获批国家发明专利2项,实用新型专利2项,在审国家发明专利1项,国际发明专利1项,并获中国科学院地球化学研究所“技术创新”一等奖。
稿件作者
李瑞
中国科学院地球化学研究所
李阳
中国科学院地球化学研究所
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